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EPK授權(quán)代理瓶壁無(wú)損測(cè)厚儀

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epk授權(quán)代理膜厚儀

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德國(guó)epk進(jìn)口FH7400FH膜厚儀ElektroPhysik測(cè)厚儀

適用于非磁性材料的測(cè)量 ;測(cè)量厚度高達(dá)10mm ;是復(fù)雜形狀的瓶子、鋁罐、玻璃和塑膠工件的理想測(cè)量工具 ;用戶菜單控制界面 ;上下文關(guān)聯(lián)的在線幫助 ;統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制功能 

德國(guó)epk進(jìn)口FH7400FH膜厚儀ElektroPhysik測(cè)厚儀
霍爾效應(yīng)測(cè)厚儀高度厚度測(cè)量 
MiniTest 7400 FH / MiniTest 7200 FH是便攜式的厚度測(cè)量工具,可準(zhǔn)確測(cè)量厚達(dá)10mm的材料。便攜而小巧的外形使其可在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)和實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行操作。MiniTest 7400 FH / MiniTest 7200 FH可在各種非磁性材料上進(jìn)行簡(jiǎn)單,無(wú)損,高精度的厚度測(cè)量,無(wú)論它們的大小、形狀和材質(zhì)如何。它還是尖角,小半徑和復(fù)雜形狀工件理想的測(cè)量工具。

適用于非磁性材料的測(cè)量 ;測(cè)量厚度高達(dá)10mm ;是復(fù)雜形狀的瓶子、鋁罐、玻璃和塑膠工件的理想測(cè)量工具 ;用戶菜單控制界面 ;上下文關(guān)聯(lián)的在線幫助 ;統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制功能 

epk膜厚儀經(jīng)銷商
霍爾效應(yīng)測(cè)厚儀高度厚度測(cè)量 
MiniTest 7400 FH / MiniTest 7200 FH是便攜式的厚度測(cè)量工具,可準(zhǔn)確測(cè)量厚達(dá)10mm的材料。便攜而小巧的外形使其可在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)和實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行操作。MiniTest 7400 FH / MiniTest 7200 FH可在各種非磁性材料上進(jìn)行簡(jiǎn)單,無(wú)損,高精度的厚度測(cè)量,無(wú)論它們的大小、形狀和材質(zhì)如何。它還是尖角,小半徑和復(fù)雜形狀工件理想的測(cè)量工具。

epk膜厚儀經(jīng)銷商

 

測(cè)量范圍

測(cè)量誤差

FH4探頭

0-1.5mm用1.5mm鋼球測(cè)

±(3um+1%讀值)

 

0-2.5mm用2.5mm鋼球測(cè)

±(5um+1%讀值)

 

0-4.0mm用4mm鋼球測(cè)

±(10um+1%讀值)

FH10探頭

0-2.5mm用2.5mm鋼球測(cè)

±(5um+1%讀值)

 

0-4.0mm用4mm鋼球測(cè)

±(10um+1%讀值)

 

0-10.0mm用6mm鋼球測(cè)

1-6mm:±(20um+1%讀值)

 

 

6-10mm:±(1.5%讀值)

 

0-10.0mm用9mm鋼球測(cè)

1-10mm:±(20um+1%讀值)

低范圍分辨率

0.1um(FH4)/ 0.2um(FH10)

重復(fù)性

優(yōu)于±(1um+0.5%讀值)

測(cè)量原理

靜磁原理

速度

1,2,5,10,20個(gè)讀值每秒(可選)

數(shù)據(jù)存儲(chǔ)

240,000個(gè)(7200 FH多100,000個(gè))

校準(zhǔn)模式

出廠設(shè)置,零校準(zhǔn),多達(dá)4點(diǎn)校準(zhǔn)

測(cè)量單位

公制(um,mm),英制(mils,inch)

統(tǒng)計(jì)圖表

數(shù)字,趨勢(shì)圖,柱狀圖(僅限7400 FH)

接口

RS232 TTL + IrDA 1.0

操作溫度

-10℃ ~ +60℃(保存溫度-20℃ ~ +80℃ )

體積/重量

153mm x 89mm x 32mm / 310g

供電

4 x AA(LR06)電池,或可選電源(90-240V / 48-62Hz)

 

 

篤摯儀器(上海)有限公司

:王工

公司地址:上海市浦東新區(qū)外高橋保稅區(qū)華京路418號(hào)

 涂層測(cè)厚儀校準(zhǔn)注意事項(xiàng),應(yīng)注意下列要點(diǎn):
1.正確的校準(zhǔn)對(duì)產(chǎn)品測(cè)量是至關(guān)重要的。對(duì)于校準(zhǔn),將采用一個(gè)與后來(lái)被測(cè)量的物體相類似的樣品,即同時(shí),標(biāo)準(zhǔn)試樣和衡量的對(duì)象應(yīng)具有相同的形狀和幾何?;旧希鄿y(cè)量對(duì)象的標(biāo)準(zhǔn)試樣匹配,測(cè)量結(jié)果將更加準(zhǔn)確。
2.確定校準(zhǔn)樣品和被測(cè)量物體的以下屬性匹配: -- 表面的曲率半徑 -- 襯底材料(如磁導(dǎo)率,電導(dǎo);以理想的方式,標(biāo)準(zhǔn)試樣和測(cè)量對(duì)象應(yīng)是同樣的材料) -- 基材厚度 -- 測(cè)量區(qū)域的尺寸3.在開始校準(zhǔn)之前,確保校準(zhǔn)點(diǎn),傳感器提示和校準(zhǔn)的樣板是干凈的。如果有必要,去除任何如油脂,金屬屑等堆積物。任何雜質(zhì)可能影響校準(zhǔn)和導(dǎo)致校準(zhǔn)的不穩(wěn)定。
4.確保總是找到各自的同一校準(zhǔn)位置,特別是小零件的測(cè)量和在棱角的測(cè)量。小零件建議使用測(cè)量支架。
5.在校準(zhǔn)過(guò)程中遠(yuǎn)離強(qiáng)磁場(chǎng)。
6.更多可以與預(yù)期厚度匹配的標(biāo)定標(biāo)準(zhǔn)厚度,將校準(zhǔn)和測(cè)量更加準(zhǔn)確。
7.根據(jù)電磁感應(yīng)方法,測(cè)量鋼或鐵襯底上的有色金屬涂料的厚度,需要多點(diǎn)校正。厚度標(biāo)準(zhǔn)樣本必須由作為以后要測(cè)量的物體相同的金屬制成。
8.如果使用校準(zhǔn)箔,確保它們被放置在基板材料的平面位置上。箔下面的空氣間隙必須避免,因?yàn)檫@將導(dǎo)致不穩(wěn)定的讀數(shù)。如果是曲線的鋁箔,確保它們放置在基體上,如下所示。
 

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