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ELEKTROPHYSIK MiniTest740測(cè)厚儀概況

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ELEKTROPHYSIK MiniTest740測(cè)厚儀概況

 

-創(chuàng)新的SIDSP(探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理)技術(shù)提升了測(cè)量的性

-測(cè)量范圍達(dá)15mm,可更換F、N或FN探頭,供內(nèi)置或外接探頭使用

-FN探頭自動(dòng)識(shí)別F(鐵磁性)或N(非磁性)基體,操作方便不易出錯(cuò)

 

SIDSP技術(shù)-技術(shù),智能數(shù)字化的涂層測(cè)厚探頭 
模擬信號(hào)處理時(shí)代已成過去,數(shù)字信號(hào)處理將成為未來的趨勢(shì)

MiniTest740測(cè)厚儀采用的SIDSP是什么?
SIDSP是由ElektrPhysik(簡稱EPK)研發(fā)的,良好的涂層測(cè)厚探頭技術(shù)。EPK此項(xiàng)技術(shù)為涂層測(cè)厚領(lǐng)域的創(chuàng)新奠定了新標(biāo)準(zhǔn)。
SIDSP即探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理,這項(xiàng)技術(shù)使探頭在測(cè)量時(shí),同時(shí)在探頭內(nèi)部將信號(hào)*處理為數(shù)字形式。SIDSP探頭*依據(jù)世界*技術(shù)生產(chǎn)。

MiniTest740測(cè)厚儀SIDSP工作原理?
跟傳統(tǒng)技術(shù)不同,SIDSP在探頭頂部產(chǎn)生和控制激發(fā)信號(hào),回傳的信號(hào)經(jīng)過32位數(shù)字轉(zhuǎn)換和處理,帶給您的涂層厚度值。此項(xiàng)的數(shù)字處理技術(shù),同時(shí)應(yīng)用在現(xiàn)代通訊技術(shù)(手機(jī)網(wǎng)絡(luò))方面,如數(shù)字濾波器,基帶轉(zhuǎn)換,平均值,隨機(jī)分析,等等。此項(xiàng)技術(shù)能獲得與模擬信號(hào)處理*的信號(hào)質(zhì)量和度。厚度值通過探頭電纜數(shù)字化傳輸?shù)斤@示裝置。
SIDSP探頭與普通模擬探頭相比,具有決定性的優(yōu)勢(shì),為涂層測(cè)厚設(shè)定了一個(gè)新的標(biāo)準(zhǔn)。

 

MiniTest740測(cè)厚儀為什么選擇SIDSP?
SIDSP探頭具有*的抗干擾性
任何與測(cè)量相關(guān)的信號(hào),都由SIDSP在靠近探頭頂部的位置進(jìn)行處理。測(cè)量信號(hào)不會(huì)通過探頭電纜傳輸時(shí)受到干擾,因?yàn)椴辉儆袦y(cè)量信號(hào)的傳輸。探頭電纜僅僅為探頭供電,并傳輸數(shù)字化的厚度值到顯示裝置。即使您的測(cè)量工件需要特別長的電纜線也沒問題,加長的電纜線同樣具有*的抗干擾能力。

SIDSP-測(cè)量信號(hào)高穩(wěn)定性
EPK的SIDSP探頭具有*的重現(xiàn)性。將探頭放在同一測(cè)量點(diǎn)測(cè)量幾次,每次您都可以得到基本一樣的結(jié)果,再次證明了SIDSP探頭的性能。

SIDSP探頭對(duì)溫度變化不敏感。

在生產(chǎn)過程中,對(duì)每個(gè)SIDSP探頭都進(jìn)行了溫度補(bǔ)償?shù)木幋a,這對(duì)于模擬探頭是根本不可能實(shí)現(xiàn)的。這樣溫度改變就不會(huì)影響測(cè)量,與溫度相關(guān)的錯(cuò)誤不會(huì)在SIDSP探頭上發(fā)生

SIDSP探頭適應(yīng)性強(qiáng)

需要快速測(cè)量幾個(gè)點(diǎn)嗎?只要開啟快速測(cè)量模式,探頭自動(dòng)轉(zhuǎn)換到特定設(shè)置。想進(jìn)行高精度測(cè)量嗎?沒問題,只要選擇高精度模式,儀器同樣能自動(dòng)轉(zhuǎn)換。不論您要求測(cè)量單個(gè)數(shù)值還是連續(xù)測(cè)量,SIDSP都能完成您的選擇!

 

優(yōu)點(diǎn)一覽

SIDSP使測(cè)量不受干擾,測(cè)值更加
-可更換探頭使用更加靈活(MINITEST 740探頭可由內(nèi)置換為外置)
-FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體,使測(cè)量更迅速,避免操作錯(cuò)誤
-溫度補(bǔ)償功能避免溫度變化引起的錯(cuò)誤
-生產(chǎn)過程中50點(diǎn)校準(zhǔn)使儀器獲得高度的特征曲線
-大存儲(chǔ)量,能存儲(chǔ)10或100組多達(dá)100,000個(gè)讀數(shù)
-讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)值能單獨(dú)調(diào)出
-超大,背光顯示屏,顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn)
-菜單指引操作,25種語言可選
-帶IrDA接口,紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機(jī)和PC
-可下載更新軟件

 

ELEKTROPHYSIK MiniTest740測(cè)厚儀概況


型號(hào) 
特性

MINITEST 720

MINITEST 730

MINITEST 740

探頭類型

內(nèi)置

外置

內(nèi)置外置可換

數(shù)據(jù)記憶組數(shù)

10

10

100

存儲(chǔ)數(shù)據(jù)量

zui多10,000個(gè)

zui多10,000個(gè)

zui多100,000個(gè)

統(tǒng)計(jì)值

讀值個(gè)數(shù),zui小值,zui大值,平均值,標(biāo)準(zhǔn)方差,變異系數(shù),組統(tǒng)計(jì)值(標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置)

校準(zhǔn)程序符合標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范

ISO,SSPC,瑞典標(biāo)準(zhǔn),澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)

校準(zhǔn)模式

出廠設(shè)置校準(zhǔn),零點(diǎn)校準(zhǔn),2點(diǎn)校準(zhǔn),3點(diǎn)校準(zhǔn),使用者可調(diào)節(jié)補(bǔ)償值

極限值監(jiān)控

聲、光報(bào)警提示超過極限

測(cè)量單位

um,mm,cm;mils,inch,thou

          

操作溫度

-10℃-60℃

存放溫度

-20℃-70℃

數(shù)據(jù)接口

IrDA 1.0(紅外接口)

電源

2節(jié)AA電池

標(biāo)準(zhǔn)

DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840
ASTM B244,B499,D7091,E376
AS 3894.3,SS 1841 60,SSPC-PA 2

體積

157mm x 75.5mm x 49mm

重量

約175g

約210g

約175g(內(nèi)置)/230g(外置)

 

篤摯儀器(上海)有限公司

:張磊

:         

公司地址:上海市浦東新區(qū)外高橋保稅區(qū)華京路418號(hào)

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