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MiniTest 740測(cè)厚儀-智能數(shù)字化技術(shù)應(yīng)用

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MiniTest 740測(cè)厚儀-智能數(shù)字化技術(shù)應(yīng)用

 

 

SIDSP技術(shù)-技術(shù),智能數(shù)字化的涂層測(cè)厚探頭 
模擬信號(hào)處理時(shí)代已成過(guò)去,數(shù)字信號(hào)處理將成為未來(lái)的趨勢(shì)

MINITEST 720/730/740涂層測(cè)厚儀采用的SIDSP是什么?
SIDSP是由ElektrPhysik(簡(jiǎn)稱EPK)研發(fā)的,的涂層測(cè)厚探頭技術(shù)。EPK此項(xiàng)技術(shù)為涂層測(cè)厚領(lǐng)域的創(chuàng)新奠定了新標(biāo)準(zhǔn)。
SIDSP即探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理,這項(xiàng)技術(shù)使探頭在測(cè)量時(shí),同時(shí)在探頭內(nèi)部將信號(hào)*處理為數(shù)字形式。SIDSP探頭*依據(jù)世界*技術(shù)生產(chǎn)。

                

篤摯儀器(上海)有限公司主要銷售的檢測(cè)儀器有: 關(guān)節(jié)臂、粗糙度儀、輪廓儀、圓度儀、圓柱度儀、淬火硬化層深無(wú)損測(cè)量?jī)x、滲碳層測(cè)厚儀、滲氮層深度無(wú)損檢測(cè)儀、零件清潔度檢測(cè)系統(tǒng)、工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡、投影儀、影像儀、光譜儀、測(cè)高儀、測(cè)長(zhǎng)儀、齒輪嚙合儀、齒輪測(cè)量中心、超聲波探傷儀、超聲波測(cè)厚儀、涂鍍層測(cè)厚儀、硬度計(jì)、紅外熱像儀、紅外測(cè)溫儀、推拉力計(jì)和扭力計(jì)、氣體檢測(cè)儀、測(cè)振儀、手持激光測(cè)速儀、渦流探傷儀等精密測(cè)試測(cè)量?jī)x器。

MINITEST 720/730/740涂層測(cè)厚儀的SIDSP工作原理?
跟傳統(tǒng)技術(shù)不同,SIDSP在探頭頂部產(chǎn)生和控制激發(fā)信號(hào),回傳的信號(hào)經(jīng)過(guò)32位數(shù)字轉(zhuǎn)換和處理,帶給您的涂層厚度值。此項(xiàng)的數(shù)字處理技術(shù),同時(shí)應(yīng)用在現(xiàn)代通訊技術(shù)(手機(jī)網(wǎng)絡(luò))方面,如數(shù)字濾波器,基帶轉(zhuǎn)換,平均值,隨機(jī)分析,等等。此項(xiàng)技術(shù)能獲得與模擬信號(hào)處理*的信號(hào)質(zhì)量和度。厚度值通過(guò)探頭電纜數(shù)字化傳輸?shù)斤@示裝置。
SIDSP探頭與普通模擬探頭相比,具有決定性的優(yōu)勢(shì),為涂層測(cè)厚設(shè)定了一個(gè)新的標(biāo)準(zhǔn)。

SIDSP是由ElektrPhysik(簡(jiǎn)稱EPK)研發(fā)的,的涂層測(cè)厚探頭技術(shù)。EPK此項(xiàng)技術(shù)為涂層測(cè)厚領(lǐng)域的創(chuàng)新奠定了新標(biāo)準(zhǔn)。

SIDSP即探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理,這項(xiàng)技術(shù)使探頭在測(cè)量時(shí),同時(shí)在探頭內(nèi)部將信號(hào)*處理為數(shù)字形式。SIDSP探頭*依據(jù)世界*技術(shù)生產(chǎn)。

SIDSP工作原理?

跟傳統(tǒng)技術(shù)不同,SIDSP在探頭頂部產(chǎn)生和控制激發(fā)信號(hào),回傳的信號(hào)經(jīng)過(guò)32位數(shù)字轉(zhuǎn)換和處理,帶給您的涂層厚度值。此項(xiàng)的數(shù)字處理技術(shù),同時(shí)應(yīng)用在現(xiàn)代通訊技術(shù)(手機(jī)網(wǎng)絡(luò))方面,如數(shù)字濾波器,基帶轉(zhuǎn)換,平均值,隨機(jī)分析,等等。此項(xiàng)技術(shù)能獲得與模擬信號(hào)處理*的信號(hào)質(zhì)量和度。厚度值通過(guò)探頭電纜數(shù)字化傳輸?shù)斤@示裝置。

SIDSP探頭與普通模擬探頭相比,具有決定性的優(yōu)勢(shì),為涂層測(cè)厚設(shè)定了一個(gè)新的標(biāo)準(zhǔn)。

為什么選擇SIDSP?

SIDSP探頭具有*的抗干擾性

任何與測(cè)量相關(guān)的信號(hào),都由SIDSP在靠近探頭頂部的位置進(jìn)行處理。測(cè)量信號(hào)不會(huì)通過(guò)探頭電纜傳輸時(shí)受到干擾,因?yàn)椴辉儆袦y(cè)量信號(hào)的傳輸。探頭電纜僅僅為探頭供電,并傳輸數(shù)字化的厚度值到顯示裝置。即使您的測(cè)量工件需要特別長(zhǎng)的電纜線也沒(méi)問(wèn)題,加長(zhǎng)的電纜線同樣具有*的抗干擾能力。

SIDSP-測(cè)量信號(hào)高穩(wěn)定性

EPK的SIDSP探頭具有*的重現(xiàn)性。將探頭放在同一測(cè)量點(diǎn)測(cè)量幾次,每次您都可以得到基本一樣的結(jié)果,再次證明了SIDSP探頭的性能。

高度的SIDSP探頭特征曲線

在生產(chǎn)過(guò)程中,EPK的SIDSP探頭要經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的校準(zhǔn)。一般的模擬探頭只會(huì)在特征曲線上選幾個(gè)點(diǎn)來(lái)校準(zhǔn),但SIDSP探頭不同:由于是全自動(dòng)化過(guò)程,探頭在50個(gè)點(diǎn)上進(jìn)行校準(zhǔn),大大降低了特征曲線的偏離。因此特征曲線在整個(gè)量程范圍內(nèi)都十分精準(zhǔn),將測(cè)量錯(cuò)誤降至zui低。

SIDSP探頭對(duì)溫度變化不敏感

在生產(chǎn)過(guò)程中,對(duì)每個(gè)SIDSP探頭都進(jìn)行了溫度補(bǔ)償?shù)木幋a,這對(duì)于模擬探頭是根本不可能實(shí)現(xiàn)的。這樣溫度改變就不會(huì)影響測(cè)量,與溫度相關(guān)的錯(cuò)誤不會(huì)在SIDSP探頭上發(fā)生!

SIDSP探頭適應(yīng)性強(qiáng)

需要快速測(cè)量幾個(gè)點(diǎn)嗎?只要開(kāi)啟快速測(cè)量模式,探頭自動(dòng)轉(zhuǎn)換到特定設(shè)置。想進(jìn)行高精度測(cè)量嗎?沒(méi)問(wèn)題,只要選擇高精度模式,儀器同樣能自動(dòng)轉(zhuǎn)換。不論您要求測(cè)量單個(gè)數(shù)值還是連續(xù)測(cè)量,SIDSP都能完成您的選擇!

SIDSP N和FN型探頭基體導(dǎo)電性補(bǔ)償

由于使用了EPK特殊的自動(dòng)補(bǔ)償方法,SIDSP電渦流探頭可以適應(yīng)多種導(dǎo)電性不同的非鐵基體材料,如銅,鈦,等等,無(wú)需特別在基體上校準(zhǔn)儀器。

主機(jī)技術(shù)數(shù)據(jù)表


型號(hào)
特性

MINITEST 720

MINITEST 730

MINITEST 740

探頭類型

內(nèi)置

外置

內(nèi)置外置可換

數(shù)據(jù)記憶組數(shù)

10

10

100

存儲(chǔ)數(shù)據(jù)量

zui多10,000個(gè)

zui多10,000個(gè)

zui多100,000個(gè)

統(tǒng)計(jì)值

讀值個(gè)數(shù),zui小值,zui大值,平均值,標(biāo)準(zhǔn)方差,變異系數(shù),組統(tǒng)計(jì)值(標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置)

校準(zhǔn)程序符合標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范

ISO,SSPC,瑞典標(biāo)準(zhǔn),澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)

校準(zhǔn)模式

出廠設(shè)置校準(zhǔn),零點(diǎn)校準(zhǔn),2點(diǎn)校準(zhǔn),3點(diǎn)校準(zhǔn),使用者可調(diào)節(jié)補(bǔ)償值

極限值監(jiān)控

聲、光報(bào)警提示超過(guò)極限

測(cè)量單位

um,mm,cm;mils,inch,thou

操作溫度

-10℃-60℃

存放溫度

-20℃-70℃

數(shù)據(jù)接口

IrDA 1.0(紅外接口)

電源

2節(jié)AA電池

標(biāo)準(zhǔn)

DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840
ASTM B244,B499,D7091,E376
AS 3894.3,SS 1841 60,SSPC-PA 2

體積

157mm x 75.5mm x 49mm

重量

約175g

約210g

約175g(內(nèi)置)/230g(外置)

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