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Elektrophysik原裝MINITEST 1100測(cè)厚儀基本功能
篤摯儀器代理的MINITEST 1100測(cè)厚儀是該系列高精度涂層測(cè)厚儀的基本款,只具備基本的功能,可以方便地測(cè)量,測(cè)量值不存儲(chǔ)、不統(tǒng)計(jì),與MINIPRINT打印機(jī)連接,可打印出所有讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)。儀器可配置不同的測(cè)頭,適用于不同場(chǎng)合。 便攜式、無(wú)損、快速、測(cè)量覆層厚度的精密儀器
可選探頭:
所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇zui適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭:測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭:測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭:同時(shí)具備F型和N性探頭的功能
F型測(cè)頭根據(jù)磁感應(yīng)原理,測(cè)量鋼或鐵基體上的非磁性覆層。例如:鋁、鉻、銅、鋅、涂料、琺瑯、橡膠等,也適合于合金和硬質(zhì)鋼。 N型測(cè)頭根據(jù)渦流原理,測(cè)量非鐵磁性金屬和奧氏體不銹鋼上的涂層。 FN兩用測(cè)頭同時(shí)利用磁感應(yīng)原理和渦流原理,一支測(cè)頭既可以用在鐵磁性基體上,也可用在非鐵磁性金屬基體上。
所有MINITEST1100/2100“智能型”測(cè)頭能適合一些特殊要求,比如可適用于曲面結(jié)構(gòu)或有特殊性質(zhì)的材料。測(cè)頭根據(jù)儲(chǔ)存的相應(yīng)信息,自動(dòng)適應(yīng)所需的條件。
注:F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內(nèi)測(cè)量。
N.08Cr適合銅上鉻,F(xiàn)N2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。
儀器特征:
可通過(guò)RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī);
可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。
應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測(cè)試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù))1
可在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn)
可利用計(jì)算機(jī)進(jìn)行基礎(chǔ)校準(zhǔn)
保護(hù)并鎖定校準(zhǔn)設(shè)置
更換電池是存儲(chǔ)數(shù)值
測(cè)量單位可公英制轉(zhuǎn)換
浮點(diǎn)和定點(diǎn)方式數(shù)據(jù)傳送連續(xù)測(cè)量模式中顯示zui小值
每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對(duì)組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì),并可設(shè)寬容度極限值)
基本配置
主機(jī)、測(cè)頭、零點(diǎn)樣板、標(biāo)準(zhǔn)箔、堿電池和多語(yǔ)言操作手冊(cè)。
可選附件:
? 特殊功能的測(cè)頭
? MINIPRIN2100便攜打印機(jī)(帶串行電纜) ? 皮盒,或防塵罩
? 程序軟盤(pán)MSOFT41,運(yùn)行于WINDOWS 95,用來(lái)處理MINITEST數(shù)據(jù)、統(tǒng)計(jì)值和直方圖
? MINITEST/PC的9/25針串行接口電纜 ? MINITEST/Mitutoyo打印機(jī)的串行電纜 ? 精密支架,用于高精度測(cè)量和小樣本測(cè)量 ? 220VAC/12VDC電源 ? 110VAC/12VDC電源
? 蓄電池和充電器(220VAC或110VAC)
篤摯儀器(上海)有限公司的產(chǎn)品和系統(tǒng)方案廣泛應(yīng)用于大中型國(guó)有企業(yè)、汽車(chē)制造業(yè)、精密機(jī)械、模具加工、電子電力、鑄造冶金、航空航天、工程建筑、大專(zhuān)院校等研究實(shí)驗(yàn)室和生產(chǎn)線、質(zhì)量控制和教育事業(yè),用于評(píng)價(jià)材料、部件及結(jié)構(gòu)的幾何特征和理化性能,推動(dòng)著精良制造技術(shù)的精益求精。
DOOZ INSTRUMENT (SHANGHAI) CO., LTD.is an instruments and equipment supplier and service provider specialized in mechanical measurement machine, materials chemical composition, physical performance testing and analysis.